SWIRイメージセンサー
高度な異物検査や材料選別、霧や煙を透過した撮影に
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概要
SWIRイメージセンサーは、短波長赤外（SWIR/Short-Wavelength InfraRed）領域の光をとらえるセンサーです。SWIR帯域の光を利用すると、半導体のシリコンウェーハを透過して位置合わせマークや内部欠陥を確認したり、不透明な樹脂素材を透過してパッケージの内容物を撮影できます。物質は光の波長によって異なる光吸収特性をもつため、外見が似ている素材の選別、異物の特定、青果の見えない傷や打痕の検出が可能です。空気中の微粒子の影響を受けにくい特徴を活かして、霧や煙、塵などの影響を抑え、肉眼では見えない対象物を映し出すこともできます。
ソニーのSWIRイメージセンサーは、独自の技術SenSWIR™（センスワイア）によって、高解像とセンサーサイズの小型化を両立しています。また、SWIR光だけでなく、可視光での撮像にも対応しています。さらに、デジタル出力に対応するとともに、グローバルシャッターやトリガーモードなどの産業用カメラに適した機能も備えています。
製品ラインアップ
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SWIRイメージセンサー IMX990 / IMX991
幅広い用途に適した 5.0μm SXGA/VGA
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SWIRイメージセンサー IMX992 / IMX993
高解像を実現する 3.45μm 5M/3M
＊1 開発中のため、暫定値
資料ダウンロード
IMX990/IMX991/IMX992/IMX993 製品概要
製品の概要や特長、仕様をまとめた資料です。
SenSWIR技術搭載イメージセンサーのご紹介
このSWIRイメージセンサーに搭載されている技術の詳細をご紹介します。
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SWIRイメージセンサー搭載カメラリスト
ソニーのSWIRイメージセンサーが搭載されたカメラの一覧はこちらからダウンロードできます。
技術
SWIRイメージセンサーに用いられている技術を紹介します。
活用事例
SWIRイメージセンサーは、さまざまなSWIR分野で活用が進んでいます。
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青果選別
青果の打痕や傷を検出できます。
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充填検査
不透明なパッケージを透過して、内容物を確認できます。
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異物検査
食品の異物やナッツの実と殻の判別を容易にします。
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材料選別
無色透明なプラスチックを素材ごとに見分けます。
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半導体製造時の位置合わせ
シリコンウェーハを透過するため、位置合わせに活用できます。
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温度のモニタリング
250℃以上の高温をモニタリングできます。
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消防活動
火災時に煙の影響を抑えて撮影できるため、現場の状況把握や
火元の特定に役立ちます。 -
遠方観察
空気中の微粒子の影響をおさえ、遠方の対象物などを鮮明に映します。
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農地の観察
作物の水分量を可視化できるため、育成状況を把握できます。
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